114檢測網(wǎng)（http://www.test114.com.cn）提供可靠性試驗、電磁兼容測試、IP防護等級測試、高低溫振動沖擊試驗、鹽霧測試、低氣壓試驗、雷擊試驗、防塵防水等服務(wù),實驗室已獲國家級CNAS、CMA資質(zhì)認可,出具產(chǎn)品檢測報告

高低溫試驗測試是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性的方法。高低溫試驗的嚴苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。

高低溫放置試驗顧名思義即為高溫貯存和低溫貯存試驗。全民檢測高低溫試驗依據(jù)按照GB/T2423.1和GB/T2423.2標準進行試驗。

高溫貯存試驗：電子設(shè)備擱置在溫度試驗箱中，設(shè)備處于斷電狀態(tài)，高溫貯存結(jié)束后，進行通電測試；

低溫貯存試驗：電子設(shè)備擱置在溫度試驗箱中，設(shè)備處于斷電狀態(tài)，低溫貯存結(jié)束后，進行通電測試。

高低溫試驗測試流程：

1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50°C，保持4個小時;

請勿在樣品通電的狀態(tài)下進行低溫測試，非常重要，因為通電狀態(tài)下，芯片本身就會產(chǎn)生+20°C以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其凍透，再次通電進行測試。

2、開機，對樣品進行性能測試，對比性能與常溫相比是否正常。

3、進行老化測試，觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。

4、升溫到+90°C，保持4個小時，與低溫測試相反，升溫過程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個小時后，執(zhí)行2、3、4測試步驟。

5、高溫和低溫測試分別重復(fù)10次。

如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測試失敗。

高低溫試驗參考標準：

GB/T2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-2008試驗B：高溫試驗方法

GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法